概述
6430B和6440B精密元件分析儀可對(duì)任何無(wú)源元件進(jìn)行全面、準(zhǔn)確的高分辨率測(cè)試。特別是,對(duì)于電容器制造商而言,這些儀器提供了快速自動(dòng)生產(chǎn)測(cè)試和完整設(shè)計(jì)特性的能力。用戶包括無(wú)源元件、制造測(cè)試、設(shè)計(jì)和測(cè)試材料的設(shè)計(jì)者,以及評(píng)估元件特性的電路設(shè)計(jì)者。
可以自動(dòng)計(jì)算任何部件及其在該頻率下的等效串聯(lián)或并聯(lián)電路的諧振頻率。這兩種儀器都設(shè)計(jì)用于組件的高性能測(cè)試,基本精度為0.02%,價(jià)格低廉。6430B是覆蓋500 kHz的入門級(jí)儀器,而功能齊全的6440B覆蓋3 MHz。
為了在指定頻率范圍內(nèi)高速評(píng)估部件性能,使用多頻率模式。在此模式下,操作員決定要測(cè)量的參數(shù)和頻率。6430B和6440B完成了其余工作,在大型LCD顯示屏上創(chuàng)建了一個(gè)易于閱讀的表格。每個(gè)測(cè)試都可以有一個(gè)簡(jiǎn)單的通過(guò)/失敗顯示。
電容器的快速自動(dòng)多頻生產(chǎn)測(cè)試
6430B和6440B可在生產(chǎn)環(huán)境中快速自動(dòng)測(cè)試電容器。用戶可以從任何儀器范圍內(nèi)選擇測(cè)量值,并對(duì)每個(gè)組件執(zhí)行多達(dá)八個(gè)不同的測(cè)試。可以為每個(gè)測(cè)試選擇公差箱。完成所有測(cè)試后,儀器選擇整個(gè)料倉(cāng)。測(cè)量結(jié)果可以通過(guò)GPIB或打印機(jī)輸出。測(cè)試序列由外部輸入、GPIB或前面板觸發(fā)。測(cè)試序列完成后,選擇bin,并在GPIB上提供測(cè)量數(shù)據(jù)。該過(guò)程以非常高的速度進(jìn)行,允許在大約180毫秒內(nèi)完成雙頻測(cè)試。用戶可以獲得統(tǒng)計(jì)形式的通過(guò)/失敗數(shù)據(jù),并可以在LCD顯示器上查看、打印到本地打印機(jī)或通過(guò)GPIB輸出。
對(duì)帶電電容器的保護(hù)
高精度測(cè)量?jī)x器可能對(duì)充電電容器敏感,如果連接可能導(dǎo)致昂貴的維修和不可接受的停機(jī)時(shí)間。Wayne Kerr Electronics已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了這個(gè)問(wèn)題,并開(kāi)發(fā)了一種解決方案,可以保護(hù)測(cè)試設(shè)備免受帶電電容器的影響。在這種情況下,保護(hù)裝置會(huì)熔斷保險(xiǎn)絲,保險(xiǎn)絲可以很容易且便宜地更換,同時(shí)測(cè)試設(shè)備不會(huì)受到傷害,并繼續(xù)提供可靠的準(zhǔn)確性能。保護(hù)裝置將保護(hù)測(cè)試設(shè)備免受高達(dá)25焦耳的帶電能量。
過(guò)載保護(hù)裝置1J1100