革命性的創(chuàng)新理念，重新定義環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備

HTXB 系列產(chǎn)品是一款多功能的功率半導(dǎo)體器件環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備。主要用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗(yàn)，比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 試驗(yàn)。

HTXB 系列產(chǎn)品采用全新的革命性創(chuàng)新設(shè)計(jì)理念，重新定義環(huán)境老化試驗(yàn)設(shè)備。允許在一臺(tái)設(shè)備上完成 HTGB/HTRB 兩種不同的試驗(yàn)，極大地提高了設(shè)備綜合利用率，并減少了采購(gòu)成本,解決了實(shí)驗(yàn)室空間緊張的問(wèn)題，降低并優(yōu)化了老化試驗(yàn)的人力、電力支出綜合成本。電源電壓范圍最大為 0~6500V，可以根據(jù)客戶(hù)要求選擇不同電壓等級(jí)電源，滿(mǎn)足了不同產(chǎn)品同時(shí)試驗(yàn)的需求。試驗(yàn)溫度范圍最大可達(dá)常溫~260℃，滿(mǎn)足了寬禁帶半導(dǎo)體器件老化試驗(yàn)對(duì)于更高溫度測(cè)試需求。最多支持 1280 個(gè)分立器件或72只半橋模塊（上下橋切換），并支持不同封裝的分立器件和模塊組合試驗(yàn)，最大化地利用資源滿(mǎn)足研發(fā)和大批量生產(chǎn)要求。

HTXB 系列產(chǎn)品還支持用戶(hù)通過(guò) ALITA SMART LAB 等軟件在移動(dòng)端/PC 端進(jìn)行遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)和控制，用戶(hù)可以隨時(shí)隨地的控制或者了解試驗(yàn)進(jìn)程。設(shè)備發(fā)生異常狀態(tài)會(huì)自動(dòng)報(bào)警，極大地緩解了值班人員工作壓力。